Applied Measurement with jMetrik
+ € 2,49 Verzending
Applied Measurement with jMetrik
- Merk: Unbranded
Applied Measurement with jMetrik
- Merk: Unbranded
14-dagen retourbeleid
14-dagen retourbeleid
Betaalmethoden:
Beschrijving
Applied Measurement with jMetrik
- Merk: Unbranded
- Categorie: Onderwijs
-
Auteur: Meyer, J. Patrick
-
Lengte: Pages: 149
-
Uitgever / Label: Taylor & Francis Ltd
-
Formaat: Hardcover
-
Grootte: 23.4 x 15.5 x 1.5 centimetres (0
-
Verschijningsdatum: 2014
-
Taal: English
- Fruugo-ID: 468903281-982756639
- ISBN: 9780415531955
Levering & retouren
Verzonden binnen7 dagen
-
STANDARD: € 2,49 - Levering tussen do 09 april 2026–ma 20 april 2026
Verzending vanaf Verenigd Koninkrijk.
We doen ons best om ervoor te zorgen dat de producten die u bestelt volledig en volgens uw specificaties bij u worden afgeleverd. Mocht u echter een onvolledige bestelling ontvangen of andere artikelen dan degene die u heeft besteld, of als er een andere reden is waarom u niet tevreden bent met de bestelling, dan kunt u de bestelling retourneren, of welk product dan ook die bij de bestelling was inbegrepen, en ontvangt u een volledige terugbetaling voor de artikelen. Bekijk het volledige retourbeleid